產(chǎn)品目錄 / Products
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英國(guó)牛津測(cè)厚儀
簡(jiǎn)要描述：英國(guó)牛津測(cè)厚儀：1、牛津儀器OXFORD-760系列銅厚測(cè)試儀專(zhuān)為滿足印刷電路板行業(yè)銅厚測(cè)量和質(zhì)量控制的需求而設(shè)計(jì)。2、OXFORD-760可用于測(cè)量表面銅和孔內(nèi)鍍銅厚度。這款高擴(kuò)展性的臺(tái)式測(cè)厚儀系統(tǒng)能采用微電阻和電渦流兩種方法來(lái)達(dá)到對(duì)表面銅和孔內(nèi)鍍銅厚度準(zhǔn)確和精確的測(cè)量。
產(chǎn)品型號(hào)：OXFORD-760- 品牌：Hitachi/日立
- 更新時(shí)間：2024-09-05
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OXFORD-760英國(guó)牛津測(cè)厚儀的詳細(xì)資料：
英國(guó)牛津臺(tái)式測(cè)厚儀 OXFORD-760
產(chǎn)品特點(diǎn): 高靈活性的銅厚測(cè)試儀
1、牛津儀器OXFORD-760系列銅厚測(cè)試儀專(zhuān)為滿足印刷電路板行業(yè)銅厚測(cè)量和質(zhì)量控制的需求而設(shè)計(jì)。
2、OXFORD-760可用于測(cè)量表面銅和孔內(nèi)鍍銅厚度。這款高擴(kuò)展性的臺(tái)式測(cè)厚儀系統(tǒng)能采用微電阻和電渦流兩種方法來(lái)達(dá)到對(duì)表面銅和孔內(nèi)鍍銅厚度準(zhǔn)確和精確的測(cè)量。
3、OXFORD-760臺(tái)式測(cè)量系統(tǒng)具有非常高的多功能性和可擴(kuò)展性，對(duì)多種探頭的兼容使其滿足了包括表面銅、穿孔內(nèi)銅和微孔內(nèi)銅厚度的測(cè)量、以及孔內(nèi)銅質(zhì)量測(cè)試的多種應(yīng)用需求。
4、OXFORD-760具有*的統(tǒng)計(jì)功能用于測(cè)試數(shù)據(jù)的整理分析。SRP-4探頭：SRP系列探頭應(yīng)用*的微電阻測(cè)試技術(shù)。測(cè)量時(shí)，通過(guò)厚度值與電阻值的函數(shù)關(guān)系準(zhǔn)確可靠地得出厚度值，而不受絕緣板層厚度或印刷電路板背面銅層影響?？捎捎脩糇孕刑鎿Q探針的SRP-4探頭為牛津儀器產(chǎn)品。耗損的探針能在現(xiàn)場(chǎng)迅速，簡(jiǎn)便的更換，將停機(jī)時(shí)間縮至zui短，更換探針模塊遠(yuǎn)比更換整個(gè)探頭經(jīng)濟(jì)。
5.OXFORD-760的標(biāo)準(zhǔn)配置中包含一個(gè)替換用探針模塊。另行訂購(gòu)的探針模塊以三個(gè)為一組，另外，細(xì)繩式的SRP-4探頭采用結(jié)實(shí)耐用的連接線和更小的測(cè)量覆蓋區(qū)令使用更為方便。
SRP-配件特點(diǎn)
SRP-4探頭：
SRP系列探頭應(yīng)用*的微電阻測(cè)試技術(shù)。測(cè)量時(shí)，通過(guò)厚度值與電阻值的函數(shù)關(guān)系準(zhǔn)確可靠地得出厚度值，而不受絕緣板層厚度或印刷電路板背面銅層影響?？捎捎脩糇孕刑鎿Q探針的SRP-4探頭為牛津儀器產(chǎn)品。耗損的探針能在現(xiàn)場(chǎng)迅速、簡(jiǎn)便地更換，將停機(jī)時(shí)間縮至zui短。更換探針模塊遠(yuǎn)比更換整個(gè)探頭經(jīng)濟(jì)。OXFORD-760的標(biāo)準(zhǔn)配置中包含一個(gè)替換用探針模塊。另行訂購(gòu)的探針模塊以三個(gè)為一組。
英國(guó)牛津測(cè)厚儀
ETP 探頭：
ETP探頭采用電渦流測(cè)試技術(shù)。電渦流測(cè)試方法指示出印刷電路板穿孔內(nèi)銅厚是否符合要求。*設(shè)計(jì)的探頭使測(cè)量準(zhǔn)確、不受板內(nèi)層影響，即使是雙層板或多層板，甚
至在有錫或錫/鉛保層的情況下，同樣能夠良好工作。
OXFORD-760儀器配ETP 探頭采用溫度補(bǔ)償技術(shù)，即使是剛從電鍍槽內(nèi)取出的板，也能實(shí)現(xiàn)對(duì)穿孔內(nèi)鍍銅厚度的測(cè)量。
準(zhǔn)確度：±(0.25μm)<(25μm) |
精確度：1.2mil時(shí)，1.0%（典型情況） |
分辨率：0.01mils(0.25μm) |
電渦流：遵守ASTME37696標(biāo)準(zhǔn)的相關(guān)規(guī)定 |
測(cè)量厚度范圍：(2-102μm) |
孔zui小直徑：(899μm) |
SRP-4 探頭規(guī)格： 
ETP 探頭規(guī)格：
準(zhǔn)確度：±1%(±0.1μm)參考標(biāo)準(zhǔn)片 |
精確度：化學(xué)銅：標(biāo)準(zhǔn)差0.2%； |
電鍍銅：標(biāo)準(zhǔn)差0.3% |
分辨率：0.1μm>10μm, 0.01μm<10μm, 0.001μm<1μm |
測(cè)量厚度范圍： 銅：0.25μm-254μm 線形銅寬：203μm-76.2mm |
主機(jī)規(guī)格：
存儲(chǔ)量：8000 字節(jié)，非易失性 |
尺寸：（29.21× 26.67× 13.97 厘米） |
重量：（2.79 千克） |
單位：通過(guò)一個(gè)按鍵實(shí)現(xiàn)英制和公制的自動(dòng)轉(zhuǎn)換 |
單位：可選擇mils 、μm、μin、mm、in或%作為顯示單位 |
接口：RS-232 串行接口，波特率可調(diào)，連接打印機(jī)或計(jì)算機(jī) |
顯示：帶背光和寬視角的大LCD液晶顯示屏，480(H)×32(V) 象素 |
統(tǒng)計(jì)顯示：測(cè)量個(gè)數(shù)，標(biāo)準(zhǔn)差，平均值，zui大值，zui小值 |
統(tǒng)計(jì)報(bào)告：存儲(chǔ)位置，測(cè)量個(gè)數(shù)，銅箔類(lèi)型，線形銅線寬， 測(cè)量日期/ 時(shí)間，平均值，標(biāo)準(zhǔn)差，方差百分比，準(zhǔn)確度， zui高值，zui低值，值域，CPK值，單個(gè)讀數(shù)，時(shí)間戳， 直方圖圖表：直方圖，趨勢(shì)圖，X-R圖 |
OXFORD-760配置包括： 可選配件：
(面銅應(yīng)用): |
OXFORD-760主機(jī) |
SRP-4探頭 |
SRP-4探頭替換用探針模塊(1個(gè)） |
NIST認(rèn)證的校驗(yàn)用標(biāo)準(zhǔn)片(2個(gè)） |
(穿孔內(nèi)銅應(yīng)用): |
ETP探頭 |
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鄭由軍
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